Filtered AXUV 다이오드 어레이를 이용한 X pinch 연 엑스선 측정 본문 발명가 함승기,박성빈 등록/출원일 20201112 구분 한국 한국군사과학기술학회 종합학술대회 목록 이전글Defect Structure Classification and Defect Energy Calculation for Nuclear Materials Using Machine Learning 21.03.05 다음글Development of ultrafast charge exchange spectroscopy system on the KSTAR tokamak 21.03.05